xīn piàn cè shì

芯片测试

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繁体芯片測試

拼音 xīn piàn cè shì

词语解释

设计初期系统级芯片测试。 SoC的基础是深亚微米工艺，因此，对Soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。